導(dǎo)電型號(hào)檢測(cè)儀 型號(hào)：KDK-STY-3

KDK-STY—3型導(dǎo)電型號(hào)檢測(cè)儀是嚴(yán)格按照標(biāo)GB/T1550-1997和ASTM  F42（非本征半導(dǎo)體村料導(dǎo)電類型的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法）中的熱探針及整導(dǎo)電類型測(cè)試方法的導(dǎo)電類型鑒別儀。

本儀器熱探筆內(nèi)裝有加熱和控溫組件，自動(dòng)加熱并使溫度維持在50?60℃范圍內(nèi)，冷熱探筆在半導(dǎo)體材料上產(chǎn)生的熱電動(dòng)勢(shì)及整法產(chǎn)生的電勢(shì)差經(jīng)低噪聲、低漂移的集成運(yùn)算放大器放大后，用液晶顯示器件（LCD）及檢計(jì)示型號(hào)方向。儀器靈敏度分、低兩檔，可判別大分非本征半導(dǎo)體材料型號(hào)（從阻單晶到重?fù)絾尉В?/p>

二、性能

1、可判別鍺、硅著料的電阻率范圍：

鍺：非本征鍺10³～10^?4Ω·cm

硅：10⁺⁴～10^-4Ω·cm

經(jīng)內(nèi)外實(shí)驗(yàn)證明：在室溫情況下，熱電法對(duì)于電阻率低于1000Ω·cm的硅單晶整法結(jié)果可靠。

2、鍺、硅單晶直徑及長(zhǎng)度：不受限制

3、顯示方式：由顯示N和P的液晶器件直接示，同時(shí)中心刻度為零位檢計(jì)也在示型號(hào)，針向左偏轉(zhuǎn)被測(cè)樣品為N型，針向右偏轉(zhuǎn)被測(cè)樣品為P型。

5、探針：用ASTM F42標(biāo)準(zhǔn)中建議的不銹鋼作冷熱探針材料，針尖為60℃錐體，熱筆溫度自動(dòng)保持在50?60℃范圍內(nèi)，冷筆與室溫相同。整法行選用硬質(zhì)合金作探針。

6、電源及耗：AC 220V±10%，50HZ交供電，zui大耗（熱筆加熱狀態(tài)）小于40W，平均耗≈10W。

7、外型尺寸：370×320×110（mm）

8、重量：約 4 kg

四探針電阻率儀 型號(hào)：KDK-KDY-4

KDK-KDY-4型四探針電阻率儀嚴(yán)格按照硅片電阻率測(cè)量的際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及家標(biāo)準(zhǔn)制，并針對(duì)目前常用的四探針電阻率測(cè)試儀存在的問(wèn)題加以改。整套儀器有如下點(diǎn)：
1、配有雙數(shù)字表：塊數(shù)字表在測(cè)量顯示硅片電阻率的同時(shí)，另塊數(shù)字表適時(shí)監(jiān)測(cè)過(guò)程中的電變化，使操作更簡(jiǎn)便，測(cè)量更。
數(shù)字電壓表量程：0—199.9mV 靈敏度：100μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±（0.4-0.5%讀數(shù)+0.1%滿度）
2、可測(cè)電阻率范圍：10—3 —1.9×103Ω·cm。
可測(cè)方塊電阻范圍：10—2 —1.9×104Ω/□。
3、設(shè)有電壓表自動(dòng)復(fù)零能，當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測(cè)量電過(guò)時(shí)，電壓表零，只有1、4探針接觸到硅片，測(cè)量電渡過(guò)單晶時(shí)，電壓表才示2、3探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對(duì)測(cè)量的干擾。
4、經(jīng)硅片的測(cè)量電由度穩(wěn)定（分之五度）的制恒源提供，不受氣候條件的影響，整機(jī)測(cè)量度＜3%。
電量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、儀器采用觸點(diǎn)電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長(zhǎng)的轉(zhuǎn)換開(kāi)頭及繼電器（＞10次），在緣電阻、電容量方面留有更大的安系數(shù)，提了測(cè)試儀的可靠性和使用壽命。
6、四探針頭采用際上的紅寶石軸套導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，使探針的游移率減小，測(cè)量重復(fù)性提

四探針電阻率儀

振動(dòng)壓實(shí)試驗(yàn)機(jī) 型號(hào)：HYL8-ZYC-2

振動(dòng)壓實(shí)試驗(yàn)機(jī) 

本儀器是采用表面振動(dòng)壓實(shí)法測(cè)定無(wú)粘性自由排水粗粒土和巨粒土（包括堆石料）的zui大干密度的試驗(yàn)儀器。  
1、電源電壓：380V； 
2、耗電率：≤looow； 
3、振動(dòng)頻率：47.5Hz； 
4、激振力二2.5-4.2KN； 
5、夯板作用在試樣表面靜壓力：13、8Kpa； 
6、試筒規(guī)格：鋁制大筒個(gè)內(nèi)徑280mm，鋁制小筒個(gè)內(nèi)徑152mm；

振動(dòng)壓實(shí)試驗(yàn)機(jī) 

四探針電阻率測(cè)定儀 型號(hào)：KDK-KDY-1A

四探針電阻率測(cè)定儀

概述
便攜式電阻測(cè)度儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的際及家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定。
它主要由電器測(cè)量份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。
為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測(cè)量電及阻率。樣品測(cè)試電由寬的恒源提供，隨時(shí)可行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來(lái)分材料也可以用來(lái)作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量瓿差不過(guò)±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到家標(biāo)準(zhǔn)機(jī)的水平。

四探針電阻率測(cè)定儀

四探針電阻率儀  型號(hào)：KDK-KDY-1

四探針電阻率儀是用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。它主要由電氣測(cè)量份（簡(jiǎn)稱：主機(jī)）、測(cè)試架及四探針頭組成。
本儀器的點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表，在測(cè)量電阻率的同時(shí)，另塊數(shù)字表（以分之幾的度）適時(shí)監(jiān)測(cè)程的電變化，免除了測(cè)量電/測(cè)量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時(shí)掌控測(cè)量電。主機(jī)還提供度為0.05%的恒源，使測(cè)量電度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒源開(kāi)關(guān)，在測(cè)量某些箔層材料時(shí)，可免除探針尖與被測(cè)材料之間接觸火花的發(fā)生，地保護(hù)箔膜。儀器配置了本公司的產(chǎn)品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測(cè)量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。本機(jī)如加配HQ-710E數(shù)據(jù)處理器，測(cè)量硅片時(shí)可自動(dòng)行厚度、直徑、探針間距的修正，并計(jì)算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的zui大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習(xí)庋。給測(cè)量帶來(lái)很大方便。

四探針電阻率儀