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描述：雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新,將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響。因而每次測量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響行動態(tài)的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 恒奧德 |
|---|
雙電測四探針測試儀 四探針測試儀 測試儀 型號：GSZ-RTS-5
雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合（亦稱雙位組合）測量新,將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響。因而每次測量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響行動態(tài)的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。所有這些，用目前大量使用的常規(guī)四探針測量方法所的儀器是無法實(shí)現(xiàn)的。
測試程序控制四探針測試儀行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)行各種數(shù)據(jù)分析.
| 術(shù) 標(biāo) ： | ||||||||||||||||||||||||
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2.
 | 產(chǎn)品名稱：低溫試驗(yàn)箱 產(chǎn)品型號：TST-GDW-50 （-20℃-70℃） |
低溫試驗(yàn)箱 型號：TST-GDW-50 （-20℃-70℃）
適用于測試和確定電、電子及其他產(chǎn)品及材料行溫、
低溫、或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
結(jié)構(gòu)點(diǎn) :
1、原裝法口“泰康"制冷機(jī)組及套制冷配件。制冷方式采用單
或雙復(fù)疊制冷(風(fēng)冷或水冷)。
2、原裝日本 口溫控儀表(恒定溫?zé)嵯涑?/SPAN>)輸入方式PT100傳感器。
3、內(nèi)膽為優(yōu)質(zhì)口不銹鋼板，外殼為A3鋼板靜電噴涂。
4、不銹鋼鱗片效電加熱器。
主要參數(shù)和性能標(biāo)：
| 小 型 /低溫試驗(yàn)箱 | TST-GDW-50 | TST-GDW-100 | TST-GDW-150 | TST-GDW-225 | |
| TST-GDW-408 | TST-GDW-800 | TST-GDW-010 | TST-GDW-015 | ||
| 作室尺寸（mm） | 300×400×450 | 400×450×550 | 500×600×500 | 500×600×750 | |
| 作室尺寸（mm） | 880×900×1500 | 800×1000×1000 | 1000×1000×1000 | 1000×1500×1000 | |
| 運(yùn)行方式 | 定值運(yùn)行、程序運(yùn)行 | ||||
參數(shù) | 溫度上限 | ＋100℃/＋150℃/+200℃ | |||
| 溫度下限 | 0℃、-10℃、－20℃、－30℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、-80℃ | ||||
| 溫度波動度 | ±0.5℃ | ||||
| 溫度均勻度 | ≤2.0℃ | ||||
| 溫度偏差 | ±2℃ | ||||
| 溫度控制器 | 口溫度控制器 | ||||
| 溫度傳感器 | Pt100鉑電阻 | ||||
| 制冷 系統(tǒng) | 制冷壓縮機(jī)/方式 | 口封閉壓縮機(jī)組/單壓縮制冷，二元復(fù)疊壓縮制冷 | |||
| 冷卻方式 | 風(fēng)冷 | ||||
| 安保護(hù)措施 | 溫、過載、壓、漏電、短路等保護(hù) | ||||
| 材料 | 箱體/保溫材料 | 外殼冷軋鋼板靜電噴塑、內(nèi)膽SUS304不銹鋼板/細(xì)玻璃棉 | |||
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | ￠50測試孔個，試品擱板二套，照明燈 | ||||
| 產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn) | GB10589：低溫試驗(yàn)箱條件GB10592 :低溫試驗(yàn)箱條件 | ||||
| 試驗(yàn)方法 | GB/T2423.1、GB/T2423.2、GB2423.22、GJB150.3、GJB150.4 | ||||
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