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描述：磁電阻效應是近年來的熱門課題，并已有廣泛的應用。本實驗儀主要供學生在實驗室測量巨磁電阻材料的磁電阻之用?；九渲冒姶盆F、大電恒源、數(shù)字恒源、數(shù)字微伏表、數(shù)字斯拉計、樣品、四探針夾具等。
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生產廠家更新時間
2025-04-21訪問量
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詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 |
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1.磁電阻效應實驗儀 型號：LK-HT-228
磁電阻效應是近年來的熱門課題，并已有廣泛的應用。本實驗儀主要供學生在實驗室測量巨磁電阻材料的磁電阻之用?；九渲冒姶盆F、大電恒源、數(shù)字恒源、數(shù)字微伏表、數(shù)字斯拉計、樣品、四探針夾具等。
主要標:
1．恒電源 0～10mA可調，三位半數(shù)字顯示，分辨率10uA，穩(wěn)定度0.5%
2．數(shù)字電壓表 測量范圍0～20mV，四位半數(shù)字顯示，分辨率1uV，度1%
3．磁場電源 0～6A可調，三位半數(shù)字顯示，穩(wěn)定度0.5% 可換向
4．數(shù)字斯拉計 測量范圍0～2000mT，四位半數(shù)字顯示，分辨率0.1mT，度1%
2.電子天平 型號；HA-JA5003N
稱量范圍：0-510g
zui小讀數(shù)：1mg
秤盤尺寸：Φ110mm
輸出接口：RS232C
外形尺寸：356mm×330mm×215mm
電源及耗：AC220V50Hz
具有自動故障檢測、自動校準、載保護、
計數(shù)、百分比、單位轉換多種能
自動內校型能提供更方便操作
3. 電子天平 型號；HA-JA4003N
稱量范圍：0-410g
zui小讀數(shù)：1mg
秤盤尺寸：Φ110mm
輸出接口：RS232C
外形尺寸：356mm×330mm×215mm
電源及耗：AC220V50Hz
具有自動故障檢測、自動校準、載保護、
計數(shù)、百分比、單位轉換多種能
自動內校型能提供更方便操作
4. 相位法光速測量儀 光速測量儀 型號：LK-LM2000A
對激光光束直接行100MHz的頻調制，移動反光鏡通過測量近程光與遠程光的相位差求得調制光的波長，依據(jù)C=f?λ計算出光的傳播速度，即“相位法"。儀器長0.8m，采用半導體器件，性能穩(wěn)定可靠。
測量方法：相位法
儀器長：0.8m
可變光程：0 – 1m
移相范圍： -
分辨率： 0.2mm
調制頻率：100MHz
測相頻率：455KHz
頻率穩(wěn)定度：
測量度：小于等于3%
波形幅度起伏小于等于5%
實驗內容擴展性：
1） 含光電接收電平示插口和模擬通信接口，可開設模擬激光通信實驗（需增購模擬通信收/發(fā)器）
測量透明介質的折射率 / 介質中光速的測量（需增購透明介質棒/管）
5.電子天平 型號；HA-JA3003N
稱量范圍：0-310g
zui小讀數(shù)：1mg
秤盤尺寸：Φ110mm
輸出接口：RS232C
外形尺寸：356mm×330mm×215mm
電源及耗：AC220V50Hz
具有自動故障檢測、自動校準、載保護、
計數(shù)、百分比、單位轉換多種能
自動內校型能提供更方便操作
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