渦測(cè)厚儀 型號(hào):TX-ED400

 TX-ED400型渦測(cè)厚儀是TX-ED300型測(cè)厚儀的改型，儀器性能大幅度提。
      儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
      儀器適于在現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品行快速、無損的膜厚檢查， 可用于檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
      儀器符合家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦法》。
儀器點(diǎn)
       TX-ED400型渦測(cè)厚儀與TX-ED300型相比，具有如下點(diǎn)：
＊量程寬   TX-ED400型的量程達(dá)到0～500μm。
＊度   TX-ED400型的測(cè)量度達(dá)到2%。
＊分辨率   TX-ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
＊校正簡(jiǎn)便   只校正“0"和“50μm"兩點(diǎn)，即可在量程范圍內(nèi)保證度。
＊基體導(dǎo)電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測(cè)量
   誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提   采用集成度、穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性
   提。
＊穩(wěn)定性提   采用的溫度補(bǔ)償，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器
   校正次可在現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
＊探頭線壽命長(zhǎng)   采用德口的，在德測(cè)厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命
   可大大延長(zhǎng)。
＊探頭芯壽命長(zhǎng)   采用強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭，探頭芯壽命可大大延
   長(zhǎng)。
＊探頭可互換   外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無
   需返廠維修。

測(cè)量范圍：     0～500μm
測(cè)量度：     0～50μm：±1μm；
                    50～500μm：±2%
分 辨 率：     0～50μm：0.1μm、
                    50～500μm：1μm；
                    0～500μm：1μm（可選）
使用溫度：     5～45℃
外形尺寸：     150mm×80mm×30mm
重      量：     260g