導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀 導(dǎo)電型號(hào)檢測(cè)儀 型號(hào)：KDK-STY-3
更新時(shí)間：2013-10-09 | 點(diǎn)擊率：346
導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀 導(dǎo)電型號(hào)檢測(cè)儀 型號(hào)：KDK-STY-3
KDK-STY—3型導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀是嚴(yán)格按照標(biāo)GB/T1550-1997和ASTM F42（非本征半導(dǎo)體村料導(dǎo)電類(lèi)型的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法）中的熱探針及整導(dǎo)電類(lèi)型測(cè)試方法的導(dǎo)電類(lèi)型鑒別儀。
本儀器熱探筆內(nèi)裝有加熱和控溫組件，自動(dòng)加熱并使溫度維持在50?60℃范圍內(nèi)，冷熱探筆在半導(dǎo)體材料上產(chǎn)生的熱電動(dòng)勢(shì)及整法產(chǎn)生的電勢(shì)差經(jīng)低噪聲、低漂移的集成運(yùn)算放大器放大后，用液晶顯示器件（LCD）及檢計(jì)示型號(hào)方向。儀器靈敏度分、低兩檔，可判別大分非本征半導(dǎo)體材料型號(hào)（從阻單晶到重?fù)絾尉В?/div>
二、性能
1、可判別鍺、硅著料的電阻率范圍：
鍺：非本征鍺103～10?4Ω·cm
硅：10+4～10-4Ω·cm
經(jīng)內(nèi)外實(shí)驗(yàn)證明：在室溫情況下，熱電法對(duì)于電阻率低于1000Ω·cm的硅單晶整法結(jié)果可靠。
2、鍺、硅單晶直徑及長(zhǎng)度：不受限制
3、顯示方式：由顯示N和P的液晶器件直接示，同時(shí)中心刻度為零位檢計(jì)也在示型號(hào)，針向左偏轉(zhuǎn)被測(cè)樣品為N型，針向右偏轉(zhuǎn)被測(cè)樣品為P型。
5、探針：用ASTM F42標(biāo)準(zhǔn)中建議的不銹鋼作冷熱探針材料，針尖為60℃錐體，熱筆溫度自動(dòng)保持在50?60℃范圍內(nèi)，冷筆與室溫相同。整法行選用硬質(zhì)合金作探針。
6、電源及耗：AC 220V±10%，50HZ交供電，zui大耗（熱筆加熱狀態(tài)）小于40W，平均耗≈10W。
7、外型尺寸：370×320×110（mm）
8、重量：約 4 kg
15010245973
010-51658042
當(dāng)前位置：